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반도체 분석장비) EL 장비 (광학적 특성 측정 방식) 저번 시간에 광학적 특성 방식의 Photo Luminescence 장비를 실습하였습니다. Luminescence 관련 이론 등은 바로 아래에 있으니, 잘 모르신다면 아래 링크를 클릭해서 보고 오시는 걸 권장합니다. 2023.01.02 - [반도체 공학/반도체 분석장비] - 반도체 분석장비) Photoluminescence PL 장비 반도체 분석장비) Photoluminescence PL 장비 PL은 광학적 특성을 측정하는 장비입니다. 이를 통해 Defect levels, impurity levels, 박막의 quality, target의 파장을 확인할 수 있습니다. PL 측정 용도 PL의 측정 용도는 반도체의 광학적 특성 및 조성, 불 yonsekoon.tistory.com EL 장비 PL 장비는 레이저.. 2023. 1. 6.
반도체 분석 장비) Optical Microscope(OM) (표면 분석 장비) Optical Microscopy(OM) Optical Microscopy(OM)는 물체의 미세한 부분을 확대하여 관찰하는 광학 장치로, 표본을 스테이지에 올려놓고 스테이지 및 광원으로 빛을 비추면 그 표본을 통과한 빛이 대물 랜즈에 의해 실상을 맺고, 이 실상을 접안렌즈로 다시 확대하여 상을 관찰하는 원리입니다. 2023.01.01 - [반도체 공학/반도체 분석장비] - 반도체 분석 장비) SEM (표면 분석 장비) 반도체 분석 장비) SEM (표면 분석 장비) Optical microscopy(OM) Optical microscopy(OM)은 물체의 미세한 부분을 확대하여 관찰하는 광학 장치로, 표본을 스테이지에 올려놓고 스테이지 및 광원으로 빛을 비추면 그 표본을 통과한 빛이 대물 랜즈에 yonse.. 2023. 1. 6.
반도체 분석장비) Raman 분석 (feat Graphene) Raman은 PL, EL와 같은 광학적 분석 장치입니다. Material structure, Defect, Surface morphology 등을 알 수 있습니다. 산란 빛이 어떤 매질을 통과할 때, 빛의 파장을 변화시켜 빛의 일부는 진행방향에서 이탈해 다른 방향으로 진행하는 현상을 산란이라고 합니다. 라만 산란(Raman Scattering) 산란 시 빛의 파장이 변화되는 현상을 라만 산란이라고 합니다. 위 라만 산란은 anti-stokes, stokes으로 또 나뉘는데요, 분자에게 photon energy를 주는 stokes 현상이 anti-stokes 현상에 비해 훨씬 많이 생기므로, 측정 시 anti-stokes 현상은 무시합니다. 물질마다 사진에서 보이는 v1의 정도가 다 달라서, 빛의 파장의 .. 2023. 1. 2.
반도체 분석장비) Photoluminescence PL 장비 PL은 광학적 특성을 측정하는 장비입니다. 이를 통해 Defect levels, impurity levels, 박막의 quality, target의 파장을 확인할 수 있습니다. PL 측정 용도 PL의 측정 용도는 반도체의 광학적 특성 및 조성, 불순물의 종류와 농도, 결정성, sample의 전자 구조적 특성 및 결함. 발광 특성뿐 아니라 2DEG 특성, 계면의 특성, 절연체 내 이온의 내부 복사전이 여부 등을 측정하는 데 사용합니다. PL에서 측정되어 나오는 파장을 통해 Bandgap과 Strain을 알 수 있고, Intensity의 크기를 통해 optical quality, 즉 surface roughness, excitation power, electric field를 알 수 있고, FWHM을 통해 .. 2023. 1. 2.
반도체 분석장비) X-ray Diffraction XRD (구조적 특성 분석 장비) XRD는 SEM 장비와 동일하게 구조적 특성을 측정하는 장비입니다. SEM 장비는 sample의 표면을 관찰하는 장비입니다. XRD 장비는 결정성, 두께, 조성, strain, defect 등을 측정하는 장비입니다. 이번 포스팅에서는 실제 측정값을 면간거리, 결정격자상수, 조성을 차례대로 구할 예정입니다. X-ray Diffraction(XRD) X-Ray의 회절 현상을 이용하여 물질의 내부구조를 측정하는 기구를 X-Ray Diffraction, XRD라고 합니다. - X-Ray 전자를 전압으로 가속시켜 물체에 충돌시킬 때, 투과력이 강한 복사선(전자기파)이 방출됩니다. 이 복사선을 X-Ray라고 합니다. 발생되는 X-Ray 중 Characteristic X-ray를 이용하지요. Characteristi.. 2023. 1. 1.
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